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SigOFIT光隔离探头MOIP系列

激光供电技术,365天不间断测试,带宽100MHz-1GHz

SigOFIT光隔离探头MOIP系列

产品概述

SigOFIT光隔离探头MOIP系列(激光供电)带宽范围从100MHz到1GHz,可测±0.01V至±6250V差模信号。基于独家SigOFIT™引领技术,MOIP系列拥有极高的共模抑制比,1GHz频段依然高达108dB,隔离电压高达85kV,底噪小于0.45mVrms。

MOIP系列采用先进的激光供电技术,激光传输信号,激光传输电能(不用电池,电源更纯净),可365天不间断测试,标准BNC接口,适配所有品牌示波器。

核心规格

带宽范围 100MHz - 1GHz
共模电压 85kVpk
直流增益精度 1%
共模抑制比 高达180dB
接口 标准BNC接口
底噪 <0.45mVrms

产品特色

最真实的信号呈现

SigOFIT光隔离探头具有极高的共模抑制比,在100MHz时CMRR高达128dB、在1GHz时CMRR仍然高达108dB,是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。

信号呈现对比表
MOIP500P幅频曲线

极高的测试精度与稳定性

作为判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判,测试精度是SigOFIT光隔离探头的重要指标。具有极佳的幅频特性,直流增益精度优于1%,底噪小于0.45mVrms,预热5min后零点漂移小于0.1%,增益漂移小于1%。

第三代半导体的最佳测试手段

第三代半导体器件由于导通与关断时间很短,信号具有更快的上升沿和下降沿,信号中具有很高能量的高频谐波,SigOFIT光隔离探头在最高带宽时,仍然具有超100dB的共模抑制比,可以近乎完美地抑制高频共模噪声所产生的震荡,所呈现的信号没有额外多余成分,是第三代半导体测试的不二之选。

碳化硅导通瞬间的Vgs信号波形
氮化镓测试安全性

测试氮化镓(GaN)不炸管

SigOFIT光隔离探头测试引线短且采用同轴传输,探头输入电容最小仅1pF,测试氮化镓(GaN)十分安全。

真正光隔离技术

用激光传输信号+用激光传输电能(不用电池,电源更纯净),可365天不间断测试。秒速自校准,无需等待,上电即测,无需预热,极高稳定性,温漂极小,精度优于1%。

365天不间断测试
测试量程展示

测试量程更宽

不同于高压差分探头只可以测试高压信号,SigOFIT光隔离探头通过匹配不同的衰减器,可以测试±0.01V至±6250V的差模信号,并实现满量程输出,达到很高的信噪比。可在0dB与20dB切换,使得单根衰减器也拥有2个量程来提高信噪比。

技术参数

型号 MOIP100P MOIP200P MOIP350P MOIP500P MOIP800P MOIP1000P
带宽 100MHz 200MHz 350MHz 500MHz 800MHz 1GHz
上升时间 ≤3.5ns ≤1.75ns ≤1ns ≤700ps ≤500ps ≤450ps
共模抑制比 DC: 180dB
100MHz: 128dB
DC: 180dB
200MHz: 122dB
DC: 180dB
350MHz: 118dB
DC: 180dB
500MHz: 114dB
DC: 180dB
800MHz: 110dB
DC: 180dB
1GHz: 108dB
测试电压范围 标配OP20(MMCX), ±25V
选配OP50(MMCX), ±62.5V
选配OP200(MCX), ±250V
选配OP1000(MCX), ±1250V
选配OP2000(MCX), ±2500V
选配OP5000(LCX), ±6250V
标配OP20(MMCX), ±25V
选配OP50(MMCX), ±62.5V
选配OP200(MCX), ±250V
选配OP1000(MCX), ±1250V
选配OP2000(MCX), ±2500V
选配OP5000(LCX), ±6250V
选配OP20(MMCX), ±10V
标配OP50(MMCX), ±62.5V
选配OP100(MMCX), ±50V
标配OP2000(MCX), ±1000V
选配OP5000(MCX), ±2500V
选配OP10000(LCX), ±5000V
选配OP20(MMCX), ±10V
标配OP50(MMCX), ±62.5V
选配OP100(MMCX), ±50V
标配OP2000(MCX), ±1000V
选配OP5000(MCX), ±2500V
选配OP10000(LCX), ±5000V
底噪 <0.45mVrms
直流增益精度 1%
共模电压 85kVpk
示波器端接口 通用标准BNC接口,可搭配所有品牌示波器使用

应用场景

SigOFIT光隔离探头MOIP系列广泛应用于各种高精度测试场景:

对其他电压探头所测结果准确性、真实性存在质疑时的最终裁判
电源设备评估、电流并联测量
EMI 和 ESD 故障排除
电机驱动设计、功率转换器设计
电子镇流器设计
氮化镓、碳化硅、IGBT半/全桥设备的设计与分析
高压高带宽测试应用的安全隔离测试
逆变器、UPS及开关电源的测试
宽电压、宽带测试应用
各种浮地测试

需要更多产品信息?

如果您对SigOFIT光隔离探头MOIP系列有任何疑问或需求,欢迎联系我们的产品专家。

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